當前， 工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)整體網(wǎng)絡架構(gòu)可以分為三個層次，分別為網(wǎng)絡互聯(lián)體系、 地址與標識解析體系和應用支撐體系， 本材料為了對工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)的三個重要體系進行深入知識產(chǎn)權(quán)分析，選取現(xiàn)場總線、工業(yè)以太網(wǎng)和OPC做為工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)絡互聯(lián)體系的知識產(chǎn)權(quán)研究對象，選取 ONS、 Handle、OID、Ecode 等主流標識解析體系作為工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)標識解析體系的知識產(chǎn)權(quán)研究對象，選取工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)平臺中的數(shù)據(jù)層作為工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)應用支撐體系的知識產(chǎn)權(quán)研究對象。
本文中，對選取的不同體系研究對象按照時間視角、地域視角、參與者視角、技術(shù)創(chuàng)新視角等維度進行全方位剖析，對相關技術(shù)的專利申請趨勢進行分析以研究該技術(shù)的隨年發(fā)展情況，對相關技術(shù)的專利布局地域進行分析以探析該技術(shù)的重要市場和技術(shù)主導國，對相關技術(shù)的專利權(quán)人進行分析以追蹤該技術(shù)的先進引領者，對相關技術(shù)進行細分以探尋技術(shù)發(fā)展脈絡，對相關技術(shù)涉及的知識產(chǎn)權(quán)風險進行梳理，以發(fā)掘潛在專利侵權(quán)風險。
最后， 本文對涉及的關鍵技術(shù)結(jié)合產(chǎn)業(yè)發(fā)展和知識產(chǎn)權(quán)發(fā)展， 給出了綜合性建議。